Identification, compilation et analyse de documents d’orientation pour la mesure de l’exposition et la limitation de l’exposition : les nanomatériaux manufacturés 

Ce rapport compile des informations d'orientation pour la mesure de l'exposition et l'atténuation de l'exposition pour les nanomatériaux manufacturés en milieu professionnel. Il aborde leur adéquation lors de la manipulation de nanomatériaux manufacturés. Ce document constitue un élément de base pour l'identification, la compilation et l'évaluation des informations d'orientation pour la mesure et l'atténuation de l'exposition sur le lieu de travail lors de la manipulation de nanomatériaux manufacturés.

22 juin 2009 54 pages Français Egalement disponible en : Anglais

https://doi.org/10.1787/1a41dcff-fr 9789264399327 (PDF)

Auteur(s) : OCDE